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薄膜测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 薄膜测厚仪
产品型号: CHY-C2
产品展商: Labthink兰光
关注指数:8741
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简单介绍
CHY-C2薄膜测厚仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。

薄膜测厚仪

   的详细介绍

CHY-C2 薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
 
薄膜测厚仪特       征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示蕞大值、蕞小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力(非标可选)
标准量块标定
微型打印机
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜测厚仪技术指标
测量范围:0~2mm(常规)
                   0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
           注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电       源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
净       重:33kg
薄膜测厚仪标       准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜测厚仪配       置
标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
选 购 件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

了解详情请致电:济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.com查询

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