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塑料薄片测厚仪 型号:CHY-C2

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 塑料薄片测厚仪 型号:CHY-C2
产品型号: CHY-C2
产品展商: Labthink兰光
关注指数:935
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简单介绍
塑料薄片测厚仪 型号:CHY-C2,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。了解薄片测厚仪CHY-C2型详细信息,敬请致电济南兰光0531-85068566

塑料薄片测厚仪 型号:CHY-C2

   的详细介绍

 

塑料薄片测厚仪 型号:CHY-C2 适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。

 

塑料薄片测厚仪特征

微电脑控制、液晶显示

菜单式界面、PVC操作面板

接触式测量

测头自动升降

手动、自动双重测量模式

数据实时显示、自动统计、打印

显示*大值、*小值、平均值和统计偏差

标准接触面积、测量压力(非标可选)

标准量块标定

微型打印机

RS232接口

网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

 

塑料薄片测厚仪技术指标

测量范围:02mm(常规) 06mm12mm(可选)

率:0.1μm

测量速度:10/min(可调)

测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)

接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制


塑料薄片测厚仪标准

GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817

详情请致电:济南兰光0531-85068566或登录官网
www.labthink.cn查询

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